Serie 378 - Einbaumikroskop für Semiconductorprüfung

  • Durch Verwendung eines nach innen geneigten Revolvers lassen sich die Objektive mit großem Arbeitsabstand hervorragend einsetzen.
  • Das FS70 eignet sich ausgezeichnet als Einbaumikroskop in einer Untersuchungsstation für Halbleiter.
  • Die von L- und L4 Modellen unterstützten YAG-Laserwellenlängen von 266nm bis zu 1064nm ermöglichen das Laserschneiden von dünnen Filmen und von Flüssigkristallsubstraten.
  • Ergonomisches Design mit kombinierten Handrädern zur Grob- und Feinverstellung.
1 - 5 (16)Anzahl:
378-185_z.eps
FS70
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378-185_z.eps
FS70S
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FS70TH
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FS70THS
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FS70Z
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1 - 5 (16)
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